Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications
Band 572

Electron Beam Ion Sources and Traps and Their Applications

8th International Symposium EBIS/T 2000, Upton, New York, 5-8 November 2000

Aus der Reihe

Fr. 175.00

inkl. gesetzl. MwSt.

Beschreibung

Details

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

01.08.2001

Herausgeber

Krsto Prelec

Verlag

AIP Press

Seitenzahl

304

Beschreibung

Details

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

01.08.2001

Herausgeber

Krsto Prelec

Verlag

AIP Press

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

24.7/16.9/2.2 cm

Gewicht

620 g

Auflage

2001

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-7354-0011-5

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