Scan Statistics

Scan Statistics

Methods and Applications

Aus der Reihe

Fr. 192.00

inkl. gesetzl. MwSt.
Taschenbuch

Taschenbuch

Fr. 71.90

Scan Statistics

Ebenfalls verfügbar als:

Gebundenes Buch

Gebundenes Buch

ab Fr. 182.00
Taschenbuch

Taschenbuch

ab Fr. 71.90
eBook

eBook

ab Fr. 125.90

Beschreibung

Details

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.05.2009

Herausgeber

Joseph Glaz + weitere

Verlag

Birkhäuser Boston

Seitenzahl

394

Beschreibung

Rezension

From the reviews:

“The area of scan statistics has developed rapidly in recent years. … provided excellent overviews of the area. … There are many papers of interest here for the readers of Technometrics. … This reviewer enjoyed thumbing through the pages of this volume and feels that the editors hope that it will serve as a valuable reference and source for researchers in applied probability and statistics and in many other areas of science and technology is well justified.” (H. N. Nagaraja, Technometrics, Vol. 53 (1), February, 2011)

Details

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

28.05.2009

Herausgeber

Verlag

Birkhäuser Boston

Seitenzahl

394

Maße (L/B/H)

25.4/17.8/2.4 cm

Gewicht

948 g

Auflage

2009 edition

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-8176-4748-3

Weitere Bände von Statistics for Industry and Technology

Unsere Kundinnen und Kunden meinen

0.0

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Erste Bewertung verfassen

Unsere Kundinnen und Kunden meinen

0.0

0 Bewertungen filtern

  • Scan Statistics
  • Preface
    Contributors
    List of Tables
    List of Figures
    Joseph Naus: Father of the Scan Statistic \ S. Wallenstein
    Precedence-Type Test for the Comparison of Treatments with a Control \ N. Balakrishnan and H. K. T. Ng
    Extreme Value Results for Scan Statistics \ M. V. Boutsikas, M. V. Koutras, and F. S. Milienos
    Boundary Crossing Probability Computations in the Analysis of Scan Statistics \ H. P. Chan, I-P. Tu, and N. R. Zhang
    Approximations for Two-Dimensional Variable Window Scan Statistics \ J. Chen and J. Glaz
    Applications of Spatial Scan Statistics: A Review \ M. A. Costa and M. Kulldorff
    Extensions of the Scan Statistics for the Detection and Inference of Spatial Clusters \ L. Duczmal, A. R. Duarte, and R. Tavares
    1-Dependent Stationary Sequences and Applications to Scan Statistics \ G. Haiman and C. Preda
    Scan Statistics in Genome-Wide Scan for Complex Trait Loci \ J. Hoh and J. Ott
    On Probabilities for Complex Switching Rules in Sampling Inspection \ W. Y. W. Lou and J. C. Fu
    Bayesian Network Scan Statistics for Multivariate Pattern Detection \ D. B. Neill, G. F. Cooper, K. Das, X. Jiang, and J. Schneider
    ULS Scan Statistic for Hotspot Detection with Continuous Gamma Response \ G. P. Patil, S. W. Joshi, W. L. Myers, and R. E. Koli
    False Discovery Control for Scan Clustering \ M. Perone-Pacifico and I. Verdinelli
    Martingale Methods for Patterns and Scan Statistics \ V. Pozdnyakov and J. M. Steele
    How Can Pattern Statistics Be Useful for DNA Motif Discovery? \ S. Schbath and S. Robin
    Occurrence of Patterns and Motifs in Random Strings \ V. T. Stefanov
    Detection of Disease Clustering \ T. Tango
    Index