Produktbild: Pattern Recognition in Speech and Language Processing

Pattern Recognition in Speech and Language Processing

Fr. 433.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.02.2003

Abbildungen

1000 equations 24 Halftones, black and white 16 Tables, black and white 72 Illustrations, black and white

Herausgeber

Chou Wu + weitere

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

410

Maße (L/B/H)

24.7/15.5/2.6 cm

Gewicht

930 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-8493-1232-8

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

26.02.2003

Abbildungen

1000 equations 24 Halftones, black and white 16 Tables, black and white 72 Illustrations, black and white

Herausgeber

Verlag

Taylor & Francis

Seitenzahl

410

Maße (L/B/H)

24.7/15.5/2.6 cm

Gewicht

930 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-8493-1232-8

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Pattern Recognition in Speech and Language Processing
  • Minimum Classification Error (MSE) Approach in Pattern Recognition, Wu ChouMinimum Bayes-Risk Methods in Automatic Speech Recognition, Vaibhava Goel and William ByrneA Decision Theoretic Formulation for Adaptive and Robust Automatic Speech Recognition, Qiang HuoSpeech Pattern Recognition Using Neural Networks, Shigeru KatagiriLarge Vocabulary Speech Recognition Based on Statistical Methods, Jean-Luc GauvainToward Spontaneous Speech Recognition and Understanding, Sadaoki FuruiSpeaker Authentication, Qi Li and Biing-Hwang JuangHMMs for Language Processing Problems, Richard M. Schwartz and John MakhoulStatistical Language Models with Embedded Latent Semantic Knowledge, Jerome R. BellegardaSemantic Information Processing of Spoken Language - How May I Help You?sm, A.L. Gorin, A. Abella, T. Alonso, G . Riccardi, and J.H. WrightMachine Translation Using Statistical Modeling, H. Ney and F.J. OchModeling Topics for Detection and Tracking, James Allen