Produktbild: ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN PRO

ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN PRO

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

10.07.2009

Verlag

Elsevier LTD, Oxford

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

22.9/15.2/1.7 cm

Gewicht

578 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-85617-517-3

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

10.07.2009

Verlag

Elsevier LTD, Oxford

Seitenzahl

304

Maße (L/B/H)

22.9/15.2/1.7 cm

Gewicht

578 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-85617-517-3

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  • Basic Principles of Atomic Force Microscopy; Measurement of Particle and Surface Interactions Using Force Microscopy; Quantification of Particle-Bubble Interactions Using Atomic Force Microscopy; Investigating Membranes and Membrane Processes with Atomic Force Microscopy; AFM and Development of (Bio)Fouling Resistant Membranes; Nanoscale Analysis of Pharmaceuticals by Scanning Probe Microscopy; Micro/Nanoengineering and AFM for Cellular Sensing; Atomic Force Microscopy and Polymers on Surfaces; Application of AFM for the Study of Tensile and Microrheological Properties of Fluids; Future Prospects