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Produktbild: Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy Methodology

Fr. 192.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Produktdetails

Einband

Set mit diversen Artikeln

Erscheinungsdatum

09.07.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

670

Maße (L/B/H)

25.2/17.4/5.1 cm

Gewicht

1244 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6087-0

Produktdetails

Einband

Set mit diversen Artikeln

Erscheinungsdatum

09.07.2010

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

670

Maße (L/B/H)

25.2/17.4/5.1 cm

Gewicht

1244 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6087-0

Herstelleradresse

Springer US, New York, N.Y.
Heidelberger Platz 3
14197 Berlin
Deutschland
Email: sdc-bookservice@springer.com
Fax: +49 6221 3454229

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  • Produktbild: Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

  • Volume 1: Methodology

    Introduction to materials.- The different observation modes in electron microscopy (SEM, TEM, STEM).- Materials problems and approaches for TEM and TEM/STEM analyses.- Physical and chemical mechanisms of preparation techniques.- Artifacts in transmission electron microscopy.- Selection of preparation techniques based on materials problems and TEM analyses.- Comparisons between techniques.-

    Volume 2: Techniques

    Introduction.- Preliminary preparation techniques.- Thinning preparation techniques.- Mechanical preparation techniques.- Replica techniques.- Techniques specific to fine particles.- Contrast-enhancement and labeling techniques.-