Produktbild: Formal Methods for Industrial Critical Systems
Band 6371

Formal Methods for Industrial Critical Systems 15th International Workshop, FMICS 2010, Antwerp, Belgium, September 20-21, 2010. Proceedings

Fr. 89.90

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.09.2010

Herausgeber

Stefan Kowalewski + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

231

Maße (L/B/H)

23.8/15.6/2.4 cm

Gewicht

375 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-15897-1

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

09.09.2010

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

231

Maße (L/B/H)

23.8/15.6/2.4 cm

Gewicht

375 g

Auflage

2010

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-642-15897-1

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Heidelberger Platz 3
14197 Berlin
Deutschland
Email: sdc-bookservice@springer.com
Url: www.springer.com
Telephone: +49 30 827870
Fax: +49 30 8214091

Noch keine Bewertungen vorhanden

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.

Kundinnen und Kunden meinen

Bewertungen (0)

  • Produktbild: Formal Methods for Industrial Critical Systems
  • The Metrô Rio ATP Case Study.- Practical Issues with Formal Specifications.- Formal Analysis of BPMN Models Using Event-B.- Developing Mode-Rich Satellite Software by Refinement in Event B.- Automatic Error Correction of Java Programs.- Range Analysis of Microcontroller Code Using Bit-Level Congruences.- An Automated Translator for Model Checking Time Constrained Workflow Systems.- Correctness of Sensor Network Applications by Software Bounded Model Checking.- Model Checking the FlexRay Physical Layer Protocol.- SMT-Based Formal Verification of a TTEthernet Synchronization Function.- Embedded Network Protocols for Mobile Devices.- A Study of Shared-Memory Mutual Exclusion Protocols Using CADP.- A Formal Model of Identity Mixer.- Automatic Structure-Based Code Generation from Coloured Petri Nets: A Proof of Concept.