• Produktbild: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen
  • Produktbild: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen

Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen

Aus der Reihe FZI-Berichte Informatik

Fr. 74.90

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei


Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.08.1992

Abbildungen

IX, mit 28 Abbildungen

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

206

Maße (L/B/H)

23.5/15.5/1.3 cm

Gewicht

343 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-55661-9

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

31.08.1992

Abbildungen

IX, mit 28 Abbildungen

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

206

Maße (L/B/H)

23.5/15.5/1.3 cm

Gewicht

343 g

Sprache

Deutsch

ISBN

978-3-540-55661-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen

Informationen zu Bewertungen

Zur Abgabe einer Bewertung ist eine Anmeldung im Konto notwendig. Die Authentizität der Bewertungen wird von uns nicht überprüft. Wir behalten uns vor, Bewertungstexte, die unseren Richtlinien widersprechen, entsprechend zu kürzen oder zu löschen.

Die Bewertungen sind nach Format, Anzahl Sterne und Datum sortiert.

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung

Kundinnen und Kunden meinen

0 Bewertungen filtern

Weitere Artikel finden Sie in

  • Produktbild: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen
  • Produktbild: Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen
  • 1 Einleitung.- 1.1 Motivation.- 1.2 Ziel der Arbeit.- 1.3 Aufbau der Arbeit.- 2 Synthese und Test hochintegrierter Steuerwerke.- 2.1 Steuerwerksentwurf.- 2.1.1 Allgemeines.- 2.1.2 Beschreibungsformen.- 2.1.3 Zustandscodierung.- 2.1.4 Logiksynthese.- 2.2 Testmethoden.- 2.2.1 Einführung.- 2.2.2 Struktureller deterministischer Test.- 2.2.3 Pseudoerschöpfender Test.- 2.2.4 Test mit Zufallsmustern.- 2.3 Entwurfsmassnahmen zur Verbesserung der Testbarkeit.- 2.3.1 Einführung.- 2.3.2 Schaltwerke mit Prüfexperimenten.- 2.3.3 Schaltungen mit Prüfpfad.- 2.3.4 Schaltungen mit Selbsttestregistern.- 2.3.5 Wahl der Teststrategie.- 2.4 Stand der Technik.- 2.4.1 Steuerwerke ohne Prüfpfad.- 2.4.2 Steuerwerke mit Prüfpfad.- 2.4.3 Selbsttestbare Steuerwerke.- 2.4.4 Zusammenfassung.- 3 Testfreundliche Steuerwerksstrukturen.- 3.1 Grundprinzipien testfreundlicher Steuerwerke.- 3.2 Integration von Selbsttestregistern.- 3.3 Integration von Prüfpfaden.- 4 Zustandscodierung für testfreundliche Steuerwerke.- 4.1 Anforderungen an die Zustandscodierung.- 4.2 Optimale Zustandscodierung.- 4.3 Übersicht über konventionelle Codierungsverfahren.- 4.3.1 Einführung.- 4.3.2 Symbolische Minimierung und Codierbedingungen.- 4.3.3 Zuweisung von Codewörtern.- 4.4 Codierungsverfahren für testfreundliche Strukturen.- 4.4.1 Kostenfunktionen für die Zustandscodierung.- 4.4.2 Quadratische Zuordnungsprobleme.- 4.4.3 Algorithmen zur Lösung des Zuordnungsproblems.- 4.4.4 Untersuchungen zur Qualität der Lösung.- 5 Steuerwerke mit integrierten Selbsttestregistern.- 5.1 Einbeziehung von Testmustergeneratoren in die Synthese.- 5.1.1 Nutzung der Generatoreigenschaft.- 5.1.2 Synthese optimierter selbsttestbarer Steuerwerke.- 5.1.3 Linear rückgekoppelte Schieberegister als Testmustergeneratoren.- 5.1.4 Analyse der Ergebnisse.- 5.2 Einbeziehung von Signaturregistern in die Synthese.- 5.2.1 Integrale Signaturanalyse.- 5.2.2 Verringerung der Fehlermaskierungswahrscheinlichkeit.- 5.2.3 Synthese von Steuerwerken mit integraler Signaturanalyse.- 5.2.4 Codierung der Zustände bei integraler Signaturanalyse.- 5.2.5 Analyse der Ergebnisse.- 5.3 Synthese von Steuerwerken mit parallelem Selbsttest.- 5.3.1 Beschreibung des Übergangsverhaltens endlicher Automaten durch Markov-Ketten.- 5.3.2 Nutzung von Signaturen als Testmuster.- 5.3.3 Fallbeispiel: „Boundary Scan “-Steuerwerk.- 5.3.4 Paralleler Selbsttest mit Pseudozufallsmustern.- 5.4 Bewertung der vorgestellten Verfahren.- 6 Steuerwerke mit integriertem Prüf pfad.- 6.1 Einbeziehung von Prüfpfaden in die Synthese.- 6.1.1 Nutzbarkeit von Prüfpfaden während des Systembetriebs.- 6.1.2 Zustandsfolgen bei Ringzählern und Johnson-Zählern.- 6.1.3 Synthese optimierter extern testbarer Steuerwerke.- 6.1.4 Implementierungsalternativen.- 6.1.5 Analyse der Ergebnisse.- 6.2 Schaltwerke mit „emuliertem Prüfpfad “.- 6.2.1 Emulation von Prüfpfaden.- 6.2.2 Synthese von Schaltwerken mit emuliertem Prüfpfad.- 6.2.3 Test von Schaltwerken mit emuliertem Prüfpfad.- 6.2.4 Erweiterungen für partielle „Prüfpfade “.- 6.2.5 Analyse der Ergebnisse.- 7 Zusammenfassung und Ausblick.- 7.1 Erzielte Ergebnisse.- 7.2 Weiterführende Arbeiten.- A.1 Einfluss der Zustandscodierung auf die Steuerwerksgrösse.- A.2 Implementierungen testfreundlicher „Boundary Scan “-Steuerwerke.- A.2.1 Konventioneller Selbsttest.- A.2.2 Paralleler Selbsttest.- A.2.3 Konventioneller Prüfpfad.- A.2.4 Nutzung des Prüfpfades im Systembetrieb.- A.2.5 Emulierter Prüfpfad.- A.3 Abschätzung der Fläche von PLA-Steuerwerken.- Verwendete Formelzeichen, Indizes und Abkürzungen.