Juin J. Rapeta, Rao J. Wong, Waisum Liou

Test Structure, Modeling and Characterization of Cmos-Based Rf Devices

Name: Test Structure, Modeling and Characterization of Cmos-Based Rf Devices
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ISBN: 978-0-471-46965-0

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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

17.02.2004

Verlag

John Wiley & Sons Inc

Seitenzahl

320

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-471-46965-0

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