Band 33
Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung
Aus der Reihe
Arbeiten zur Angewandten Statistik
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- Taschenbuch ausgewählt
- eBook
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Sprache:Deutsch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
12.04.1990
Verlag
PhysicaSeitenzahl
231
Maße (L/B/H)
24.4/17/1.4 cm
Gewicht
414 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-7908-0468-3
In der Praxis tritt häufig der Fall auf, dass eine ganze Folge von Warenlosen des gleichen Artikels vom gleichen Anlieferer zu kontrollieren ist bzw. zur Zwischenkontrolle oder Endkontrolle vorgelegt wird. In dieser Situation existieren meistens ziemlich genaue Kenntnisse über Prüf-, Ersatz- und Garantiekosten eines Einzelstücks sowie Fixkosten für die Prüfung eines Loses. Auch über die Verteilung der Losschlechtanteile, die Prozesskurve, sind in diesem Fall Kenntnisse vorhanden. In dieser Arbeit wird untersucht, wie durch die Analyse der Stichprobenergebnisse auf mögliche Änderungen der Prozesskurve zu schliessen ist. Signalisieren die Stichprobenergebnisse eine Änderung der Prozesskurve, so soll anhand der verfügbaren Informationen die neue Prozesskurve geschätzt werden, und ein neuer Prüfplan soll entsprechend dieser Prozesskurve bayesoptimal gewählt werden. Die in dieser Arbeit entwickelten adaptiven Stichprobensysteme schneiden hinsichtlich der erwarteten Verluste bei Fehlentscheidungen über Prüfaufwand und Losannahme z.T. erheblich besser ab, sind einfacher zu handhaben und kommen mit einer geringeren Zahl von Prüfplanwechseln aus als herkömmliche Verfahren.
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