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Produktbild: Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits

Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits The System on Chip Approach

Fr. 175.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

30.05.2008

Herausgeber

Yichuang Sun

Verlag

Institution of Engineering & Technology

Maße (L/B/H)

23.4/15.6/2.2 cm

Gewicht

623 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-86341-745-0

Beschreibung

Portrait

Yichuang Sun is Professor at the University of Hertfordshire, UK. His research interests are in analogue and mixed-signal circuits, RF and communication circuits, circuit testing and fault diagnosis, coding and signal detection, space-time and MIMO communications, wireless and mobile networks.

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

30.05.2008

Herausgeber

Yichuang Sun

Verlag

Institution of Engineering & Technology

Maße (L/B/H)

23.4/15.6/2.2 cm

Gewicht

623 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-0-86341-745-0

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Produktbild: Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits

    • Chapter 1: Fault diagnosis of linear and non-linear analogue circuits
    • Chapter 2: Symbolic function approaches for analogue fault diagnosis
    • Chapter 3: Neural-network-based approaches for analogue circuit fault diagnosis
    • Chapter 4: Hierarchical/decomposition techniques for large-scale analogue diagnosis
    • Chapter 5: DFT and BIST techniques for analogue and mixed-signal test
    • Chapter 6: Design-for-testability of analogue filters
    • Chapter 7: Test of A/D converters: From converter characteristics to built-in self-test proposals
    • Chapter 8: Test of Sigma Delta converters
    • Chapter 9: Phase-locked loop test methodologies: Current characterization and production test practices
    • Chapter 10: On-chip testing techniques for RF wireless transceiver systems and components
    • Chapter 11: Tuning and calibration of analogue, mixed-signal and RF circuits