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Single Event Phenomena

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.02.2014

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

351

Maße (L/B/H)

22.9/15.2/2.1 cm

Gewicht

562 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-7770-2

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

26.02.2014

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

351

Maße (L/B/H)

22.9/15.2/2.1 cm

Gewicht

562 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4613-7770-2

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • 1 Preliminaries.- 1.1 Introduction.- 1.2 Fluence, Flux, and Current Density.- 1.3 Cross Sections.- 1.4 Chord Distribution Functions.- Problems.- References.- 2 Extraterrestrial SEU-Inducing Particles.- 2.1 Introduction.- 2.2 Cosmic Rays.- 2.3 Other Cosmic Ray Particles.- 2.4 Alpha Particles.- 2.5 Solar Flares.- 2.6 Van Allen Radiation Belts.- Problems.- References.- 3 Particle Penetration and Energy Deposition.- 3.1 Introduction.- 3.2 Particle Penetration in Materials.- 3.3 Range.- 3.4 Ionization Loss.- 3.5 Bremsstrahlung Loss.- 3.6 Pair Production, Cosmic Ray Showers.- 3.7 LET Introduction.- 3.8 LET Spectra (Heinrich) Curve.- 3.9 Linear Energy Transfer (LET) Applicability.- Problems.- References.- 4 Single Event Upset: Experimental.- 4.1 Introduction.- 4.2 Heavy-Ion Accelerators.- 4.3 Critical LET, Critical Charge.- 4.4 Californum-252 Sources.- 4.5 Lasers.- Problems.- References.- 5 Single Event Upset Error Rates.- 5.1 Introduction.- 5.2 Geosynchronous SEU.- 5.3 Proton-Induced SEU.- 5.4 Neutron-Induced SEU.- 5.5 Alpha-Particle-Induced SEU.- 5.6 Ground-Level SEU.- Problems.- References.- 6 Single Event Phenomena I.- 6.1 Introduction.- 6.2 Funneling.- 6.3 Track Transport.- 6.4 SEU Cross-Section Morphology.- 6.5 Device SEU Scaling.- 6.6 Single Event Latchup.- 6.7 South Atlantic Anomaly, Low Earth Orbits.- 6.8 Single Event Gate Rupture, Device SEU Burnout.- Problems.- References.- 7 Single Event Phenomena II.- 7.1 Introduction.- 7.2 Multiple Event Upsets.- 7.3 Ionizing Dose Effects.- 7.4 Redundancy, Scrubbing.- 7.5 Error Detection and Correction.- 7.6 SEU Shielding.- 7.7 Radiation Sensors and Detectors.- Problems.- References.- 8 Single Event Upset Practice.- 8.1 Introduction.- 8.2 Geosynchronous SEU Error Rate Computations.- 8.3 Proton-Induced SEU II.- 8.4 Neutron-InducedSEU II.- 8.5 Single Event Latchup II.- 8.6 Single Event Burnout II.- 8.7 Guidelines.- Glossary for Tables 8.13–8.17.- Appendices 8.1–8.3.- Problems.- References.