Diagnosticheskie modeli i metody poiska defektov v tehnicheskih sistemah Teoriya i algoritmy
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- Russisch ausgewählt
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
27.06.2015
Verlag
Palmarium Academic PublishingSeitenzahl
124
Maße (L/B/H)
22/15/0.9 cm
Gewicht
203 g
Sprache
Russisch
ISBN
978-3-659-60077-7
Rassmotreny metody diagnostirovaniya tehnicheskih ustrojstv, modeliruemyh jelektricheskimi cepyami na osnove logicheskogo analiza topologii ob#ekta. Privedena metodika poiska defektov v razvetvlennyh jelektricheskih cepyah vysokoj razmernosti. Dana ocenka pogreshnostej na osnove analiza obuslovlennosti topologicheskih matric. Rassmotrena model' i metodika diagnostirovaniya jelektricheskih shem metodom izovar, a takzhe testirovanie kombinacionnyh shem na osnove postroeniya matricanta diagnostirovaniya. Mozhet byt' polezna specialistam, rabotajushhim v oblasti tehnicheskoj diagnostiki.
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