CMOS Test and Evaluation A Physical Perspective
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
10.09.2016
Abbildungen
XIII, 338 illus., schwarz-weiss Illustrationen
Verlag
Springer UsSeitenzahl
424
Maße (L/B/H)
23.5/15.5/2.4 cm
Gewicht
663 g
Auflage
Softcover reprint of the original 1st edition 2015
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4939-4702-7
CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.
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