Beddow: Particle Characterization in Technology Volume I: Application and Microanalysis

Name: Beddow: Particle Characterization in Technology
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ISBN: 978-1-315-89625-0

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Produktdetails

Gebundene Ausgabe

29.11.2017

John Keith Beddow

Taylor and Francis

263

25.4/17.8 cm

650 g

Englisch

978-1-315-89625-0

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