Métodos cristalográficos para la determinación estructural Guía pedagógica completa, desde la recogida de datos hasta la validación de estructuras
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
07.01.2026
Verlag
Ediciones Nuestro ConocimientoSeitenzahl
80
Maße (L/B/H)
22/15/0.5 cm
Gewicht
137 g
Sprache
Spanisch
ISBN
978-620-9-46421-8
Este exhaustivo libro ofrece una exploración en profundidad de las metodologías esenciales en difracción de rayos X de monocristal (SCXRD) y cristalografía estructural. Proporciona un camino claro, paso a paso, desde la adquisición de datos de difracción en bruto hasta la validación final de estructuras cristalinas refinadas. Comenzando con los principios de la recogida de datos y la indexación de reflexiones, el libro guía a los lectores a través de las complejidades del tratamiento de datos, la evaluación de la calidad y la determinación de la simetría. Se hace especial hincapié en las mejores prácticas para aplicar el análisis de grupos espaciales, refinar los modelos atómicos y garantizar la fiabilidad de los resultados estructurales.Diseñado para servir tanto de herramienta docente como de obra de referencia, este volumen está dirigido a estudiantes de posgrado, investigadores y profesionales de la cristalografía, la ciencia de los materiales y las ciencias moleculares.
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