Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials Scanning Probe Microscopy Approach
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- Hardcover ausgewählt
- Taschenbuch
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
06.04.2004
Abbildungen
XIII, 282 p.
Herausgeber
Marin Alexe + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
282
Maße (L/B/H)
24.1/16/2.3 cm
Gewicht
672 g
Auflage
2004
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-20662-0
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