Lifetime Spectroscopy A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
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- Hardcover ausgewählt
- Taschenbuch
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Sprache:Englisch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
23.06.2005
Abbildungen
XXVI, 492 p.
Verlag
Springer BerlinSeitenzahl
492
Maße (L/B/H)
24.1/16/3.7 cm
Gewicht
1035 g
Auflage
2005
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-540-25303-7
Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. Since it is based on the recombination process, it provides insight into precisely those defects that are relevant to semiconductor devices such as solar cells. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques. The various theoretical predictions are verified experimentally with the context of a comprehensive study on different metal impurities. The quality and consistency of the spectroscopic results, as explained here, confirms the excellent performance of lifetime spectroscopy.
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