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Band 41

Soft Errors in Modern Electronic Systems

Aus der Reihe Frontiers in Electronic Testing

Fr. 202.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.09.2010

Herausgeber

Michael Nicolaidis

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

318

Maße (L/B/H)

24.4/16.7/2.8 cm

Gewicht

1430 g

Auflage

2011

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6992-7

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Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

30.09.2010

Herausgeber

Michael Nicolaidis

Verlag

Springer Us

Seitenzahl

318

Maße (L/B/H)

24.4/16.7/2.8 cm

Gewicht

1430 g

Auflage

2011

Sprache

Englisch

ISBN

978-1-4419-6992-7

Herstelleradresse

Libri GmbH
Europaallee 1
36244 Bad Hersfeld
DE

Email: gpsr@libri.de

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  • Soft Errors from Space to Ground: Historical Overview, Empirical Evidence, and Future Trends.- Radiation Induced Single-Event Effects: Physical Mechanisms and Classification.- JEDEC Standard on Measurement and Reporting of Alpha Particles and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors.- Cell-Level Modelling and Simulation.- Circuit and System Level Modelling and Simulation.- Hardware Fault Injection.- Accelerated Radiation Testing for Space Applications.- Testing for Ground-Level Applications.- Soft Error Mitigation Techniques.- Convergence of Mitigation Techniques for Soft Errors and Other Reliability Issues and Power Aware Mitigation Techniques.- Software Level Soft-Error Mitigation Techniques.- System Level Soft-Error Mitigation Techniques.