Band 39
Progress in Transmission Electron Microscopy 2 Applications in Materials Science
Aus der Reihe
Springer Series in Surface Sciences
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- Hardcover
- Taschenbuch ausgewählt
-
Sprache:Englisch
Fr. 137.00
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
19.10.2010
Herausgeber
Xiao-Feng Zhang + weitereVerlag
Springer BerlinSeitenzahl
307
Maße (L/B/H)
23.5/15.5/1.8 cm
Gewicht
499 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-642-08718-9
Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume II illustrates the important role that TEM is playing in the development and characterization of advanced materials, including nanostructures, interfacial structures, defects, and macromolecular complexes.
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