Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Aus der Reihe
Angewandte Physik
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Sprache:Deutsch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
01.01.1997
Abbildungen
mit 26 Abbildungen
Verlag
Vieweg & TeubnerSeitenzahl
320
Maße (L/B/H)
20.3/13.3/1.8 cm
Gewicht
366 g
Auflage
1997
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-519-03221-2
Bei der Arbeit vieler Praktiker als Material- oder Werkstoff-Wissenschaftler, als Mineralogen, Chemiker oder Halbleiterphysiker erweist sich die Notwendigkeit, die submikroskopische Struktur der untersuchten Objekte zu kennen. - Die Bedeutung der Elektronenmikroskopie ist hier in ständigem Steigen begriffen, zumal sie neuerdings auch chemische Informationen bis hinab zu atomaren Dimensionen zu liefern vermag. Das vorliegende Buch vermittelt das Verständnis der Transmissions-Elektronenmikroskopie anorganischer (d.h. in der Regel kristalliner) Objekte. Behandelt werden nach den optischen Grundlagen der Beugungskontrast, hochauflösende und analytische Elektronenmikroskopie. Aus dem Inhalt: Eine Einführung in die Transmissions-Elektronenmikroskopie für Studierende der Physik, insbesondere der Festkörperphysik und der Werkstoffwissenschaften. Analogie zwischen Licht- und Elektronenmikroskopie. Wechselwirkung schneller Elektronen mit Materie. Dynamische Theorie der Beugung von Elektronenwellen an kristalliner Materie, Interpretation von Beugungskontrasten. Hochauflösende Elektronenmikroskopie, Chemische Inhomogenitäten, Holographie. Analytische Elektronenmikroskopie.
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