Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
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- Hardcover ausgewählt
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- eBook
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Sprache:Englisch
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Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
25.10.2013
Abbildungen
schwarz-weiss Illustrationen
Herausgeber
Goel Sandeep K. + weitereVerlag
Taylor & FrancisSeitenzahl
259
Maße (L/B/H)
23.4/15.6/2.2 cm
Gewicht
589 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-4398-2941-7
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