Band 7
Kristallinität und Fehlordnung: Charakterisierung und technologische Bedeutung Vorträge der Frühjahrstagung des Fachausschusses Physik der Hochpolymeren im Rahmen der Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik bei der Deutschen Physikalischen Gesellschaft in Münster vom 17. bis 22. März 1975
Aus der Reihe
Aktuelle Probleme der Polymer-Physik
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Sprache:Deutsch
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Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
01.01.1976
Abbildungen
V, 242 S. 42 Abb.
Herausgeber
E.W. Fischer + weitereVerlag
SteinkopffSeitenzahl
242
Maße (L/B/H)
27.9/21/1.4 cm
Gewicht
624 g
Auflage
1. Auflage
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-7985-0457-8
7) Kryszewski, M. and A. Szymanski, Macromol. Rev. 4D, 183 (1970). The density and the energetic situation of local 8) Bassler, H., Kunststoffe 62, 115 (1972). i;::ed levels at the polymer surface and bulk and their 9) Rose, A., Helv. Phys. Acta 29, 199 (1956). occupancy probability of excess electrons or defect 10) Many, A., Y. Goldstein and N. B. Grover electrons determine the electrostatic charging of Semiconductor Surfaces, 139 (Amsterdam 1971): polymer solids associated with the contact of met 11) Many, A., N. B. Grover, Y. Goldstein and E. als. Accumulation layers of excesselectrons and de Harnik, ]. Phys. Chern. Solids 14, ]D 5, 298 (1960). pletion layers of defectelectrons can exist near the 12) Many, A., Y. Goldstein and N. B. Grover polymer surface depending on the electrical potential Semiconductor Surfaces, 185 (Amsterdam 1971): of the contacting metal. These layers are caused by 13) Ryvktn, S. M., Photoelectric Effects in Semi the difference between the physical states of the poly conductors, 252 (New York 1964). mer surface and bulk. The energetic situation of the 14) Cholvdry, A. and C. R. Westgate, ]. Phys. D: localized levels is determined by intermolecular inter Appl. Phys. 7, 713 (1974). actions and therefore it depends on the state of 15) Many, A., Y. Goldstein and N. B. Grover, order of the surface and the bulk. Semiconductor Surfaces, 136 (Amsterdam 1971).
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