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Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil

Fr. 74.90

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1960

Abbildungen

mit 1304 Amit 2 Abbildungenngen, 2 Abb. in Farbe.

Herausgeber

W. Bargmann + weitere

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

851

Maße (L/B/H)

27.9/21/4.8 cm

Gewicht

2138 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1960

Sprache

Deutsch, Englisch

ISBN

978-3-642-49481-9

Beschreibung

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

01.01.1960

Abbildungen

mit 1304 Amit 2 Abbildungenngen, 2 Abb. in Farbe.

Herausgeber

Verlag

Springer Berlin

Seitenzahl

851

Maße (L/B/H)

27.9/21/4.8 cm

Gewicht

2138 g

Auflage

Softcover reprint of the original 1st ed. 1960

Sprache

Deutsch, Englisch

ISBN

978-3-642-49481-9

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Eröffnungs-Ansprache.- Opening remarks.- Festvortrag.- Geschichte des Elektrons.- A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren.- 1. Kathoden.- Über die Arbeitsweise und die elektronenoptischen Eigenschaften der Spitzenkathode.- The point cathode as an electron source.- Recent progress in field emission at high current densities.- Zur Frage der Stabilität der Feldelektronenemission.- Production of square temperature waves in filaments of field emission microscopes operating at low temperatures.- Massenspektrometrische Untersuchung chemischer Reaktionen mit Hilfe einer Feldemissions-Ionenquelle.- Diskussionsbemerkung (zu Beitrag H. D. Beckey S. 28).- Messungen an Elektronenstrahlerzeugern.- Der Boersch-Effekt und ein Ansatz zu seiner theoretischen Deutung.- Potential well modulation of electron beams.- Versuche an einer Gasentladungskathode.- 2. Linsen und Ablenksysteme.- Ein kombiniertes Integriergerät zur genaueren Berechnung der Felder elektronenoptischer Abbildungssysteme.- Über eine Zusatzlinse zur Kompensation der Farbabhängigkeit der Vergrösserung im elektrostatischen Elektronenmikroskop.- The development of the lens system in the Hitachi electron microscope.- Permanent magnet lens systems and their characteristics.- Mesure et correction de l’aberration d’ouverture des lentilles quadrupolaires magnétiques.- Stigmatoren für ein Mehrlinsen-Mikroskop.- Ein elektrostatischer Feinstrahlkondensor.- Elektronenoptisches System zur Herstellung feiner Elektronensonden.- An electrostatic-electromagnetic alignment section for the electron microscope.- 3. Objekteinrichtungen.- Ein Präparattisch mit universeller Bewegungseinrichtung.- A protection shutter for the specimen in the electron microscope.- Gas reaction on the specimen.- Eine Kammer für die Untersuchung von Objekten mit Gasumgebung.- Die Objektverschmutzung und ihre Verhütung.- Improvement of the specimen cooling device for the electron microscope.- Improvement of the specimen heating device for the electron microscope.- A high temperature stage for the Elmiskop I.- Experimentelle Untersuchung der thermischen Einwirkung des Elektronenstrahls auf das Objekt im Elektronenmikroskop.- 4. Bildaufzeichnungsverfahren.- Verwendung eines Bildverstärkers zur Leuchtdichte-Steigerung des Bildes im Elektronenmikroskop.- Hochauflösende Leuchtschirme für die Elektronenmikroskopie.- Kornlose und höchstauflösende Fixierung von Ionen- und Elektronen-Bildern.- Die informationstheoretische Grenze bei der Abbildung lebender Substanz im Elektronenmikroskop und über Möglichkeiten zur Annäherung an die Grenze.- Eine einfache Sonde zur Bestimmung von Elektronenstrahlintensitäten am Endbildschirm von Übermikroskopen.- 5. Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze).- Das Verhalten photographischer Schichten bei Elektronenbestrahlung.- Elektronenvielfachstreuung in photographischen Emulsionen.- Punktauflösung von extrem feinkörnigen und extrem empfindlichen Photoemulsionen.- The effect of grain of photographic emulsion on the resolution of an electron microscope.- The decomposition of silver azide by electrons.- Extruded silver filaments.- Cinematographic studies on the interaction of electrons with microcrystals of silver iodide.- Neue elektronenmikroskopische Untersuchungen zum Mechanismus der photographischen Entwicklung.- 6. Stereoaufnahme.- Stereoscopy and resolution in electron microscopy.- Präparative Hilfsmittel zur quantitativen Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen.- Methoden und Ergebnisse von Ausmessungen elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen mit dem „Elmigraph I“.- Ein einfaches Verfahren zur Auswertung elektronenmikroskopischer Stereoaufnahmen.- 7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung.- Neue Gesichtspunkte bei der Gestaltung von Hochvakuumanlagen in der Elektronenmikroskopie.- Objektverschmutzung durch Kohlenwasserstoffe als vakuumtechnisches Problem.- Über eine einfache elektronische Hochspannungsquelle für 50 kV mit hoher Konstanz.- Messgeräte zur Untersuchung der Schwankungen von Hochspannung und Linsenstrom beim Elektronenmikroskop mit elektromagnetischen Linsen.- 8. Durchstrahlungsmikroskope.- A new high voltage (350 kV) universal electron microscope and its applications.- Ein 300-kV-Elektronenmikroskop und einige Ergebnisse seiner Anwendung für verschiedene Forschungszwecke.- A two-stage electron microscope using a pointed filament.- Some design features of a new Philips Electron Microscope.- Ein 70-kV-Elektronenmikroskop mit kalter Kathode und elektrostatischem Objektiv.- The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part I: Construction.- The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part II: Method of alignment and inspection.- Ein vereinfachtes 50-kV-Elektronenmikroskop.- Ein Hilfselektronenmikroskop für Kurs- und Routinebetrieb.- An improved operating method for the Siemens Elmiskop I.- Über eine neue Einrichtung zur Feinstrahlbeugung.- 9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie.- The examination of single crystals by reflection electron microscopy.- Microscopie électronique à émission secondaire et microscopie électronique par réflexion: développements récents.- Über ein Elektronenmikroskop und ein Verfahren zur direkten Sichtbarmachung von isolierenden Oberflächen.- Association d’un microscope à émission et d’un diffractographe à réflexion.- Neuere emissionsmikroskopische Erfahrungen mit Ionen-, Elektronen- und UV-ausgelösten Elektronen.- Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundliche Anwendungen.- Microscopie à émission ionique négative.- Über einige anwendungstechnische Erfahrungen mit einem Emissions-Mikroskop.- Über einige Probleme der Reflexionsmikroskopie.- 10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie.- Biprisma-Interferometer für Elektronenwellen und seine nwendung zur Messung von inneren Potentialen.- Elektronen-Interferenz-Mikroskopie.- Interférométrie électronique et microscopie électronique interférentielle.- 11. Röntgen-Projektionsmikroskopie.- The projection X-ray microscope and related microanalytical techniques.- X-ray microscopy using point sources.- Selection of spectra for X-ray microscopy.- Contrast improvement in X-ray projection microscopy.- Untersuchungen über das Röntgenstrahlmikroskop vom Standpunkt der Informationsübertragung.- 12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie.- An X-ray micro-analyzer of improved design.- Microanalysis with the X-ray scanning microscope.- Recent developments in scanning electron microscopy.- Microscopie électronique par balayage.- 13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- Herstellung feiner Fräsungen mit Elektronen-Strahlen.- B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild.- 1. Streuung am Objekt und Bildkontrast.- Characteristic energy losses of electrons.- Über den Einfluss der unelastisch gestreuten Elektronen auf den Flächenkontrast im Elektronenmikroskop.- Messung der elastischen und unelastischen Streuverteilung mittelschneller (15—50-keV-) Elektronen mit Hilfe der Gegenfeldmethode.- A simple method of estimating the screening radius of an atom.- Die Streumatrix für die Elektronenbeugung an durchstrahlten Kristallplatten und ihre Verwendung für die Berechnung elektronenoptischer Kristallgitterbilder.- The variations in background intensity of electron diffraction patterns.- The contrast of transmission electron diffraction patterns.- Low voltage electron microscopy.- Bildentstehung und Bildkontrast.- Electron phase microscope.- Kritisches zu gewohnten Auffassungen über Kontrastentstehung.- 2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden.- Observations on crystal lattices and imperfections by transmission electron microscopy through thin films.- Theoretical interpretation on the electron microscopic image of crystal lattice and its moiré pattern.- The direct observation of the long period of the ordered alloy CuAu(II) by means of electron microscope.- Observations on order-disorder and domain structures in thin films of copper-gold alloys.- Electron microscopic observation of periodic structure.- Electron microscopy of ribonuclease crystals.- Observations at high resolution on several indanthrene dyes.- Zum Einfluss von Bildfehlern und Beleuchtung auf die Abbildung von Kristallstrukturen.- Modellversuche zur Beugung und Abbildung gestörter Gitter.- 3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moirés.- Moiré patterns from metal lattices.- Electron microscopic and diffraction studies of superimposed lamellar crystals.- Mehrfachbeugung und Moiré bei orientiert verwachsenen Kristalldoppelschichten.- Moiré patterns and other crystallinity effects in the electron microscopy of polyethylene single crystals.- The structural significance of moiré patterns.- Zur Theorie der Moiré-Muster.- C. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik.- 1. Trägerfolien.- Stable Substrates on annular discs.- The use of charged polymers for supporting films for the electron microscopy of macromolecules.- The mechanical strength of thin films under electron bombardment.- 2. Dünne Objektschichten.- Einfluss verschiedener Präparationsmethoden auf die Korngrössenverteilung von feindispersen Substanzen.- La technique des coupes ultra-minces appliquée à l’étude des charbons.- Nouvelle méthode de préparation de films métalliques minces et applications en métallurgie.- Une méthode rapide d’amincissement des échantillons métalliques et quelques unes de ses applications en métallographie.- Oxydation dünner Metall- und Fluoridschichten im Elektronenmikroskop.- 3. Oberflächen.- Cathodic etching in a magnetic field.- Le décapage ionique appliqué à la diffraction électronique par réflexion.- Ionenätzung im Elektronendiffraktographen.- Über Grenzflächenreaktionen zur Entwicklung von üblicherweise im Abdruck nicht erkennbaren Oberflächenstrukturen.- Influence du bombardement ionique sur certaines structures superficielles.- Einfluss des Ätzvorganges auf die Gefügewiedergabe im elektronenmikroskopischen Bild.- Réactif d’attaque amélioré des aciers destiné à la microscopie électronique.- 4. Aufdampf- und Abdruckverfahren.- Energy of particles ejected during evaporation of carbon.- Methods for the preparation and electron microscopical observation of dispersed colloidal heavy metal particles.- Beschreibung einer Apparatur zur Herstellung dünner Schichten aus Gasentladungen bei Drucken von kleiner als 10-3 Torr und tiefen Temperaturen.- Methodik der elektronenmikroskopischen Untersuchung temperaturempfindlicher Präparate.- A new approach to the problem of high resolution shadow-casting: The simultaneous evaporation of platinum and carbon.- Ergebnisse bei der Untersuchung von Abdrucken geringer Eigenstruktur.- The rigidity of carbon replicas in relation to surface topography.- Eine Technik der Replica-Herstellung von Kohlenstoffstählen durch unmittelbare Verdampfung von Kohle und ihre Eignung für das Studium der Martensit-Zersetzung.- On a high resolution pre-shadowed carbon replica method and its direct stripping technique.- The replication of radioactive metal surfaces.- A two-step replica method in electron microscope investigation of the structure of porous aluminium oxide pellets.- Abbildung von Verteilungszuständen in kompakt-dispersen Körpern.- D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie).- 1. Kristallgitter-Strukturen.- Über die Genauigkeit von Gitterkonstantenmessungen mit Elektroneninterferenzen.- Studies in crystal structure using electron diffraction of single crystals.- Electron microscopic and diffraction studies of the aged AgI sol.- The diamond to graphite transformation.- Orientation de microcristaux déposés sur mica.- 2. Kristallwachstum.- Untersuchungen an sehr dünnem Blattgold.- An electron microscopical study: The structure and morphology of ultramicroscopic dendrites of alpha iron.- An electron microscopical study: Some effects of magnetic field upon single, anisotropic alpha iron crystals and the relation between their fine structure and magnetic properties.- The role of electron microscopy in the development of a new science “Crystallurgy”.- Übermikroskopische Strukturuntersuchung von zwei Legierungen für permanente Magnete.- Cinematographic study of the growth process of oxide crystals in the electron microscope.- Electron microscopic and diffraction study on the progress of reduction of tungsten trioxide.- A study of an oxide-coated cathode with the electron microscope.- 3. Kristalloberflächen.- Electron microscopic observation of alkali-halide crystals at low temperature.- Microstructure in ammonium dihydrogen phosphate crystals induced by clays during growth.- Elektronenmikroskopische Untersuchung der Spaltflächen von Indiumantimonid-Einkristallen.- Electron optical investigation and electron microscopy of the domain structure of ferroelectric single crystals.- 4. Kondensierte Schichten.- Wachstum von Alkalihalogeniden bei Bekeimung.- Nouvelle méthode d’étude par microscopie électronique de la structure superficielle des faces de clivages d’halogénures alcalins.- Nucleation of evaporated metal layers on single crystal substrates.- Elektronenoptische Untersuchung zur Kristallisation von dünnen Aufdampfschichten aus halbleitenden Verbindungen.- The structure of evaporated carbon films.- Untersuchungen über den Ursprung von spontanen Bedeckungen auf Silberaufdampfschichten.- Oberflächenabdrücke von elektrolytisch niedergeschlagenen Kupfer- und Silberschichten mit eingebauten organischen Fremdstoffen.- Elektronenoptische Untersuchungen an dünnen, elektrolytisch niedergeschlagenen Nickelschichten.- 5. Kristallbau-Fehler und Versetzungen.- A theory of Bragg diffraction phase contrast due to defects in crystals observed by transmission electron microscopy.- Comparison of dislocation arrangements and movements in a number of metals.- Dislocation interactions in stainless steel.- Recrystallization of cold rolled nickel.- Dislocation loops in quenched aluminium and gold.- A transmission microscope study of uranium.- A transmission electron microscope study of thin foils of copper.- Experimental techniques for the plastic deformation of metal foils in the electron microscope.- Versetzungsanordnungen in a-Messing.- Observations on thin metal films during controlled deformation in the electron microscope.- Deformation of oriented thin films on solid substrates.- Chauffage et déformation des échantillons minces métalliques à l’intérieur d’un microscope électronique.- The direct observation of dislocations in bismuth telluride.- 6. Umwandlungs- und Ausscheidungsvorgänge in Metallen.- Some problems in the study of precipitation and phase transformation in metals.- Precipitation of carbides in unalloyed and low alloy steels.- Étude d’alliages titane-aluminium par micrographie et microdiffraction électroniques sur coupes minces.- Electron transmission studies of thin foils of aged aluminium alloys.- An electron microscopic study of the age hardening of duralumin.- Transformation de phases des alliages Al-Cu due au chauffage à l’intérieur du microscope électronique.- Transformation des réseaux métalliques sous l’influence des éléments d’insertion: Transformation du réseau du nickel sous l’influence de l’azote.- Die Bildung des Eisen-Stickstoff-Martensits in dünnen Schichten.- Some special aspects of the bainitic structure.- The mechanism of bainite formation in low alloy steels containing up to 0.4% carbon.- Utilisation du brome comme agent de dissolution du métal, dans la préparation de répliques microfractographiques et de répliques avec extraction.- An electron microscope study of changes in a 21/4% Cr, 1% Mo super-heater tube steel during tempering and creep.- Studies on the occurrence, morphology and identity of nitride precipitates in iron and steel.- Die orientierte Zementitausscheidung im Ferrit.- Carbidphasen-Umwandlungen in Schnelldrehstahl beim Anlassen zwischen 100° und 700° C.- The precipitation of Cr7C3 in ferritic steels of varying chromium content.- Application de la microscopie électronique à l’étude de la précipitation dans les aciers inoxydables par extraction sur réplique de carbone.- Application of the selected area diffraction from carbon extraction replicas for the study of carbide reactions and the inclusions in steel.- Quelques aspects du développement de la métallographie électronique.- 7. Natürliche und künstliche technologische Fasern.- Studies of fibrous structures.- Studies of the reactivity of keratin with heavy metals.- L’examen des fibres textiles au microscope électronique— Contribution à l’étude de la structure fine des fibres de laine Mérinos.- Cross-sectional study of chemically treated cotton fibers.- Microfibrillar structure in regenerated cellulose.- Verbesserte Objektpräparationen für die elektronenmikroskopische Untersuchung von Cellulosefasern.- Relative mass thicknesses in wood cells of pine (with remarks on impregnation properties).- Statistische Auswertungen an Cellulosefibrillen in der primären Zellwand.- Super micellar structures of high polymers.- 8. Verschiedene Produkte der chemischen Technik.- Über die Hydratation von Zement und den Einfluss von Fluaten.- Elektronenmikroskopische Untersuchung von natürlichen, hydraulischen Bindstoffen.- Bestimmung der mittleren Porengrösse feinporiger Stoffe im Elektronenmikroskop mit Hilfe definiert eingestellter Fresnelsäume.- The structure of colloidal barium sulphate.- Elektronenmikroskopische Untersuchung von Ni-Kieselsäure Katalysatoren.- An investigation of a micellar solution by electron microscopy.- Polydispersität kolloider Systeme.- A direct electron microscope study of thin rubber films.- Einige Besonderheiten der Elektronenbeugungs-Untersuchungen an Hochpolymerverbindungen.- 9. Staube und Rauche.- Elektronenoptische Untersuchungen von Schwebestaub in Grubengebäuden.- The electron microscope study of airborne coal and rock dust.- Étude par diffraction et microscopie électroniques de la fumée du tabac.- Electron microscopy of bidi and cigarette smoke.- 10. Spuren-Nachweis.- Die Anwendung mikrochemischer Nachweisverfahren in der Elektronenmikroskopie.- Ein Beitrag zum Nachweis kleinster Substanzmengen.- E. Feldemissionsmikroskopie*.- 1. Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberflächen.- Über die Feldelektronenemission des Palladiums im Vergleich zu Nickel und Platin.- Feldemission von Vanadium.- Untersuchungen an dem Chrom-Nickelstahl 18/8 im Feldelektronenmikroskop.- The investigation of phase transformation ? ? ? Zr.- Kristalloberflächen unter dem Einfluss elektrischer Felder.- Observation of metals at high temperatures by the Field Emission Microscope.- 2. Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden.- The topography of the hydrogen chemisorption on metals.- Application of electron emission microscopy in chemisorption studies.- Zur Messung der Dicke von Barium-Aufdampfschichten im Feldelektronenmikroskop.- The formation of carbides on the surface of Mo and W single crystals.- 3. Feldionen-Mikroskopie.- Beobachtungen der atomaren Struktur von Metalloberflächen im Feldionenmikroskop.- Zur Analyse von Feldionenmikroskop-Aufnahmen mit atomarer Auflösung.