Virtualization for Reliable Embedded Systems
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
13.09.2013
Abbildungen
8 Farbabb.
Verlag
GRINSeitenzahl
264
Maße (L/B/H)
21/14.8/1.9 cm
Gewicht
387 g
Auflage
2. Auflage
Sprache
Englisch
ISBN
978-3-656-49071-5
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