Produktbild: Virtualization for Reliable Embedded Systems

Virtualization for Reliable Embedded Systems Magisterarbeit

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

13.09.2013

Abbildungen

mit 8 Farbabbildungen

Verlag

GRIN

Seitenzahl

264

Maße (L/B/H)

21/14.8/1.9 cm

Gewicht

387 g

Auflage

2. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-656-49071-5

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

13.09.2013

Abbildungen

mit 8 Farbabbildungen

Verlag

GRIN

Seitenzahl

264

Maße (L/B/H)

21/14.8/1.9 cm

Gewicht

387 g

Auflage

2. Auflage

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-656-49071-5

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