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Produktbild: Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Aus der Reihe Graduate Texts in Physics

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Beschreibung

Produktdetails

Format

PDF

Kopierschutz

Nein

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Nein

Text-to-Speech

Nein

Erscheinungsdatum

13.10.2012

Verlag

Springer

Seitenzahl

764 (Printausgabe)

Dateigröße

17011 KB

Auflage

Fourth Edition 2013

Sprache

Englisch

EAN

9783642297618

Beschreibung

Rezension

``I can warmly recommend this book, which is attractively priced, as an excellent addition for any materials scientist or physicist who wants a good overview of current diffraction and imaging techniques.''
John Hutchison in Journal of Microscopy

``I can recommend it as a valuable resource for anyone involved in a higher-level course on materials characterization.''
Ray Egerton in Micron

``A wonderful book. A rare combination of depth, practical advice, and problems for every aspect of modern XRD, TEM, and EELS. No materials lab should be without it now that TEM/STEM has become such a crucial tool for nanoscience.''
John C. H. Spence, Arizona State University

``I give a lecture course here on Advanced Electron Microscopy and will certainly be recommending your book for my course. It is a superb book.’’
Colin Humphreys, Cambridge University

``This text offers the most complete pedagogical treatment of scattering theory available in a single source for graduate instruction in contemporary materials characterization. Its integration of photons and electrons, beam lines and electron microscopes, theory and practice, assists students with diverse scientific and technical backgrounds to understand the essence of diffraction, spectrometry and imaging. Highly recommended.’’
Ronald Gronsky, University of California, Berkeley

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Erscheinungsdatum

13.10.2012

Verlag

Springer

Seitenzahl

764 (Printausgabe)

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Auflage

Fourth Edition 2013

Sprache

Englisch

EAN

9783642297618

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