Wang, L: VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

Name: Wang, L: VLSI Test Principles and Architectures
Price: 120.0 CHF
Availability: LimitedAvailability
ISBN: 978-1-4933-0086-0

Fr. 120.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Lieferung nach Hause

Versandfertig innert 6 - 9 Werktagen

Filialabholung – Versandkostenfrei

Produktdetails

Taschenbuch

21.07.2006

Elsevier

808

Englisch

978-1-4933-0086-0

Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel

Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.