OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
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- Deutsch ausgewählt
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inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
18.03.2015
Herausgeber
Jürgen Beyerer + weitereVerlag
KIT Scientific PublishingSeitenzahl
298
Maße (L/B/H)
21/14.8/1.9 cm
Gewicht
435 g
Sprache
Deutsch
ISBN
978-3-7315-0318-7
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