Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM
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Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
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Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
01.07.2016
Verlag
SpringerSeitenzahl
196 (Printausgabe)
Dateigröße
7190 KB
Auflage
2nd ed. 2016
Sprache
Englisch
EAN
9783319398778
Scanning and stationary-beam electron microscopes are indispensable tools for both research and routine evaluation in materials science, the semiconductor industry, nanotechnology and the biological, forensic, and medical sciences. This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates who need to understand how the principles of physics apply in an area of technology that has contributed greatly to our understanding of life processes and "inner space." Physical Principles of Electron Microscopy will appeal to technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.
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