Electron and Ion Microscopy and Microanalysis Principles and Applications, Second Edition,
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Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
08.10.2018
Herausgeber
Lawrence E. MurrVerlag
Taylor & Francis eBooksSeitenzahl
856 (Printausgabe)
Dateigröße
111107 KB
Auflage
2. Auflage
Sprache
Englisch
EAN
9781482293357
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