Teoretyczna ocena wspó¿czynnika odbicia w cienkich warstwach AL/SiO2 SPUTTERING osadzany dla zastosowa¿ w pow¿okach optycznych
-
- Polnisch ausgewählt
Fr. 62.90
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Taschenbuch
Erscheinungsdatum
19.04.2021
Verlag
Wydawnictwo Nasza WiedzaSeitenzahl
84
Maße (L/B/H)
22/15/0.6 cm
Gewicht
143 g
Sprache
Polnisch
ISBN
978-620-3-62224-9
Poprawa w¿äciwo¿ci optycznych materiäu, takich jak reflektancja, wi¿¿e si¿ ze z¿o¿onym poszukiwaniem optymalnych parametrów eksperymentalnych w procesie ich otrzymywania. Wykorzystanie oprogramowania obliczeniowego do symulacji procesów wzrostu cienkich warstw stanowi istotn¿ korzy¿¿ ze wzgl¿du na brak zale¿no¿ci od rzeczywistego systemu, jak równie¿ mo¿liwo¿¿ zbadania szerszego zakresu wyst¿puj¿cych wielko¿ci fizycznych. Ponadto, istnieje potrzeba w przemy¿le motoryzacyjnym, Varroc Lighting Systems© otrzymä zadanie poprawy wspó¿czynnika odbicia reflektorów aluminiowych, wi¿c przeprowadzili¿my rozwój, przy u¿yciu oprogramowania NASCAM®, które wykorzystuje metod¿ kinetyczn¿ Monte Carlo do opracowania modelu uk¿adu fizycznego, który ma by¿ badany w skali nanometrycznej, pozwoli nam to na analiz¿ wp¿ywu ró¿nych wielko¿ci, które mog¿ wp¿ywä na wspó¿czynnik odbicia materiäu.
Noch keine Bewertungen vorhanden
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kundinnen und Kunden durch Ihre Meinung.