Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
-
- Hardcover ausgewählt
- Taschenbuch
- eBook
-
Sprache:Englisch
Fr. 147.00
inkl. gesetzl. MwSt.,
Beschreibung
Produktdetails
Einband
Gebundene Ausgabe
Erscheinungsdatum
01.10.2015
Verlag
Morgan & Claypool Publishers LLC-IopSeitenzahl
104
Maße (L/B/H)
25.4/17.8/0.6 cm
Gewicht
367 g
Sprache
Englisch
ISBN
978-1-64327-846-9
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.
Kundinnen und Kunden meinen
Verfassen Sie die erste Bewertung zu diesem Artikel
Helfen Sie anderen Kund*innen durch Ihre Meinung