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Produktbild: Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
Band 439

Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I

Aus der Reihe Studies in Systems, Decision and Control

Fr. 201.00

inkl. gesetzl. MwSt., Versandkostenfrei

Beschreibung

Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.09.2023

Herausgeber

Volodymyr Eremenko + weitere

Verlag

Springer

Seitenzahl

277

Maße (L/B/H)

24.1/16/2.1 cm

Gewicht

652 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-40717-8

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Produktdetails

Einband

Gebundene Ausgabe

Erscheinungsdatum

19.09.2023

Herausgeber

Verlag

Springer

Seitenzahl

277

Maße (L/B/H)

24.1/16/2.1 cm

Gewicht

652 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-40717-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag GmbH
Tiergartenstr. 17
69121 Heidelberg
DE

Email: ProductSafety@springernature.com

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  • Produktbild: Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I

  • Preface.- Contents.- Metrological Support of Measurement Channels with Bridge Circuits.- Application of Exponential Splines in the Measurement and Control of Electric Circuit Parameters.- Improving of Methods of Impedance Parameters Units Reproduction and Measurement Accuracy Increasing for Ensuring Metrological Traceability.- Implementation of Information and Measurement Systems at the Base Specialized Internet Protocols.- Model of Information Signals Formation in the Diagnostics of Composite Products.- Theory and Practice of Ensuring the Validity in Testing Laboratories.- Methodology for Controlling Greenhouse Microclimate Parameters and Yield Forecast Using Neural Network Technologies.