Produktbild: Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I
Band 439

Advanced Information-Measuring Technologies and Systems I

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Beschreibung

Produktdetails

Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.09.2024

Herausgeber

Volodymyr Eremenko + weitere

Verlag

Springer

Seitenzahl

277

Maße (L/B/H)

23.5/15.5/1.5 cm

Gewicht

493 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-40720-8

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Einband

Taschenbuch

Erscheinungsdatum

20.09.2024

Herausgeber

Verlag

Springer

Seitenzahl

277

Maße (L/B/H)

23.5/15.5/1.5 cm

Gewicht

493 g

Sprache

Englisch

ISBN

978-3-031-40720-8

Herstelleradresse

Springer-Verlag KG
Sachsenplatz 4-6
1201 Wien
AT

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  • Preface.- Contents.- Metrological Support of Measurement Channels with Bridge Circuits.- Application of Exponential Splines in the Measurement and Control of Electric Circuit Parameters.- Improving of Methods of Impedance Parameters Units Reproduction and Measurement Accuracy Increasing for Ensuring Metrological Traceability.- Implementation of Information and Measurement Systems at the Base Specialized Internet Protocols.- Model of Information Signals Formation in the Diagnostics of Composite Products.- Theory and Practice of Ensuring the Validity in Testing Laboratories.- Methodology for Controlling Greenhouse Microclimate Parameters and Yield Forecast Using Neural Network Technologies.