Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis Theory and Applications
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Produktdetails
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Nein
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Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
07.09.2013
Verlag
SpringerSeitenzahl
318 (Printausgabe)
Dateigröße
10896 KB
Sprache
Englisch
EAN
9783642381775
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