In-situ Electron Microscopy Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
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Produktdetails
Format
ePUB
Kopierschutz
Ja
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Ja
Erscheinungsdatum
30.05.2012
Herausgeber
Gerhard Dehm + weitereVerlag
Wiley-VCHSeitenzahl
402 (Printausgabe)
Dateigröße
18726 KB
Auflage
1. Auflage
Sprache
Englisch
EAN
9783527652181
Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomassstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; ausserdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.
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