Advances in Imaging and Electron Physics Optics of Charged Particle Analyzers
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Produktdetails
Format
ePUB
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Ja
Erscheinungsdatum
06.08.2010
Verlag
Elsevier Science & Techn.Seitenzahl
296 (Printausgabe)
Sprache
Englisch
EAN
9780123813176
This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.
- Contributions from leading international scholars and industry experts
- Discusses hot topic areas and presents current and future research trends
- Invaluable reference and guide for physicists, engineers and mathematicians
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