VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers
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Sprache:Englisch
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Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
12.09.2016
Herausgeber
Youngsoo Shin + weitereVerlag
Springer Nature SwitzerlandSeitenzahl
223 (Printausgabe)
Dateigröße
25589 KB
Auflage
1st ed. 2016
Sprache
Englisch
EAN
9783319460970
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