Beschreibung
Produktdetails
Format
ePUB 3
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Ja
Erscheinungsdatum
27.09.2017
Herausgeber
Abdelkhalak El Hami + weitereVerlag
Elsevier Science & Techn.Seitenzahl
312 (Printausgabe)
Sprache
Englisch
EAN
9780081024225
- Presents a methodological guide that demonstrates the reliability of fractured mechatronic components and devices
- Includes numerical and statistical models to optimize the reliability of the product architecture
- Helps users develop a methodology to characterize critical elements at the earliest stage
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