Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
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Sprache:Englisch
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inkl. gesetzl. MwSt.Beschreibung
Produktdetails
Format
Kopierschutz
Nein
Family Sharing
Nein
Text-to-Speech
Nein
Erscheinungsdatum
30.08.2018
Herausgeber
Rongming Wang + weitereVerlag
Springer Nature SingaporeSeitenzahl
508 (Printausgabe)
Dateigröße
33687 KB
Sprache
Englisch
EAN
9789811304545
Showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy
Explores the growing opportunities in this field and introduces readers to state-of-the-art charged-particle microscopy techniques
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